為慶?!禨pectroscopy》創(chuàng)刊30周年,該刊特邀幾位ICP-MS專家就ICP-MS的近期技術(shù)進(jìn)展、存在的挑戰(zhàn)和未來發(fā)展方向做了一個綜述,以饗讀者。
ICP-MS技術(shù)與應(yīng)用最新進(jìn)展及未來展望(上)
ICP-MS技術(shù)與應(yīng)用最新進(jìn)展及未來展望(中)
形態(tài)分析
形態(tài)分析是ICP-MS的另一項重要應(yīng)用領(lǐng)域,而且它也獲得越來越多的關(guān)注,特別是期望一些有毒有害元素(例如食品中的砷和水中的鉻)受到管控的領(lǐng)域。如欲對未知化合物進(jìn)行完整的形態(tài)分析,ICP-MS技術(shù)還需要和其他補(bǔ)充相關(guān)結(jié)構(gòu)信息的手段相結(jié)合,例如ESI-MS。ESI-MS用于確定有機(jī)分子的化學(xué)式和結(jié)構(gòu)已經(jīng)有很長的時間了。由于ESI是一種軟電離源,故可通過所產(chǎn)生的分子離子來確定其結(jié)構(gòu)信息。所以我們也詢問了專家們,ESI-MS是否可以取代ICP-MS的聯(lián)用來進(jìn)行定量的形態(tài)分析?
達(dá)成的共識是“不會”,因為對于定量形態(tài)分析而言,相比ESI-MS,ICP-MS具有一些特殊的優(yōu)勢。在ESI-MS中,電離效率和基體類型息息相關(guān),故許多的定量分析都必須使用內(nèi)標(biāo)法來校正。與此相反的是如ICP等原子離子源,幾乎以相同的效率產(chǎn)生離子,并且與元素的化學(xué)結(jié)構(gòu)很少或者幾乎無關(guān)?!爱?dāng)進(jìn)行定量分析的時候,這個特性是十分重要的,特別是待分析物是未知類型樣品的時候?!盧ay如是說。
Westphal指出:在形態(tài)分析當(dāng)中,ICP-MS的另一項優(yōu)勢是它很容易與其他的分離技術(shù)連接。他說:“最新改進(jìn)的為LC、GC、IC連用ICP-MS的接口和軟件,再加上ICP-MS容易定量和譜線比較簡單。這些都導(dǎo)致ESI-MS完全無法取代ICP-MS和其他儀器的聯(lián)用,尤其是進(jìn)行痕量、超痕量分析的時候?!?br /> Hanley闡述了這一因素的重要性。她指出:金屬或者非金屬的形態(tài)分析通常需要連接IC或者反相IC。用IC法來進(jìn)行形態(tài)分離時,通常會使用含鹽的流動相。她說:“當(dāng)色譜和ICP-MS連用時,ICP-MS具有一定程度的耐鹽性。這使得LC-ICP-MS的分析方法具有穩(wěn)健性、可重復(fù)以及低達(dá)亞ppb的檢出限?!倍鴮τ贓SI-MS而言,鹽分是一種不利的因素,它的存在既影響檢出限也使得分析方法的穩(wěn)健性下降。
Hanley指出:此外,在形態(tài)分析上ICP-MS具有其他一些優(yōu)點。當(dāng)使用LC-ICP-MS來做形態(tài)分析時,檢測器僅對金屬/非金屬元素有信號的相應(yīng),對于那些經(jīng)過消解的有機(jī)成分則不會有相應(yīng)的信號干擾。她說:“這使得一些復(fù)雜樣品——從生物類樣品如尿液血液到食品如大米和海鮮——的分析變得簡單?!迸c此相反,當(dāng)使用LC-ESI-MS時,有機(jī)組分和無機(jī)組分一起被洗脫下來進(jìn)樣,此時無機(jī)組分離子的含量過低導(dǎo)致ESI-MS不容易檢測。她說:“上述提到的那些復(fù)雜樣品,如果使用同樣的前處理方法,然后采用LC-ESI-MS來檢測的話,得到的LC-ESI-MS譜圖將會過于復(fù)雜從而使得無法獲得有意義的數(shù)據(jù)——因為檢測器會對任何能電離的東西有響應(yīng)。”
雖然考慮到這些因素,一些專家仍然認(rèn)為技術(shù)是互補(bǔ)的。Vanhaecke說:“我希望色譜柱分離產(chǎn)物可以分別被分流進(jìn)ICP-MS和ESI-MS,這樣可以更加有通用性?!?br /> Koppenaal同意這點,他說:“將ESI-MS和ICP-MS結(jié)合起來將被繼續(xù)使用,以實現(xiàn)更好的形態(tài)分析。這種方法既對元素分析有好處同時也有利于明確分子結(jié)構(gòu)的確定?!?br />解決尚存問題
我們也請專家們討論目前有哪些尚未解決的問題,特別是復(fù)雜基體樣品的測試,以及如何開發(fā)ICP-MS方法、技術(shù)來攻克這些問題。
Ray明智地回答到:“沒有一種方法能一勞永逸地解決復(fù)雜基體的分析問題?!彼f道:“碰撞反應(yīng)池解決了很多的問題,但隨著這些問題的解決,剩下的麻煩則越來越困難。奇怪的是,造成這些困擾的原因并不是ICP-MS的質(zhì)譜部分,而是來自于離子源。對ICP-MS的離子源開展更多的研究是十分必要的,特別是對應(yīng)于激光燒蝕聯(lián)用和納米顆粒分析應(yīng)用?!?br /> Westphal將話題轉(zhuǎn)回樣品的處理上:“現(xiàn)在的ICP-MS已經(jīng)可以直接分析高總固體溶解度樣品,這堪比ICP-OES。然而交叉污染以及儀器背景值,使得我們即便使用專用的樣品導(dǎo)入系統(tǒng),也無法輕易地在同一臺儀器上進(jìn)行百分含量和低達(dá)ppt級別的分析?!辈贿^他認(rèn)為在他所從事的工業(yè)環(huán)境研究應(yīng)用當(dāng)中,現(xiàn)有的儀器已可提供足夠的檢出限?!半m然我們總是希望儀器可以更快、更佳同時又更便宜。”他補(bǔ)充說道。
Hanley說:大部分尚未解決的問題都涉及到干擾的消除問題,多電荷離子的干擾依然是ICP的痼疾。雖然碰撞反應(yīng)池的使用大大增強(qiáng)了去除同量異位素的干擾能力,但是在單四極桿系統(tǒng)中,碰撞反應(yīng)池的消干擾能力是和基體息息相關(guān)的——任何進(jìn)入碰撞反應(yīng)池中的離子都將影響著池系統(tǒng)的再現(xiàn)性和穩(wěn)健性。
她說:“三重四極桿型ICP-MS系統(tǒng)的出現(xiàn),在不損失靈敏度的前提下,革命性地取得了消除雙電荷離子干擾、同量異位干擾離子和儀器背景干擾的效果?!彼忉尩溃涸谌厮臉O桿儀器中,第一個四極桿用于消除基體離子,同量異位干擾離子和多電荷干擾離子在碰撞反應(yīng)池系統(tǒng)中被加以消除/降低,然后第二個四極桿作為濾質(zhì)器。
Koppenaal說:“三重四極桿型ICP-MS有其獨(dú)特的優(yōu)勢,但并非最終的‘靈丹妙藥’。新型的、綜合的樣品前處理方法和儀器分析方法仍然必須繼續(xù)加以發(fā)展。長久以來,儀器制造商們都將這兩個視為獨(dú)立開發(fā)的問題,并以這樣的方式處理——樣品的前處理問題給予其他獨(dú)立的小公司加以解決,而他們則專注于儀器本身?!?br />未來的展望
最后,我們請專家們談?wù)撨@項技術(shù)在近期內(nèi)有沒有可能就儀器本身或者應(yīng)用領(lǐng)域出現(xiàn)突破?
Ray指出:“一些不利因素正在持續(xù)改進(jìn)當(dāng)中:儀器朝著高速分析、低價方向發(fā)展;低樣品量的分析結(jié)果更加精準(zhǔn);其他的能力也將不斷地提高?!?br /> 不過,他和Denton、Vanhaecke一致認(rèn)為需要有一個重點的發(fā)展方向——同時型多接收ICP-MS。他說:“這就像多色器在ICP-OES領(lǐng)域里面占據(jù)了主流一樣。在未來,一個真正的多元素、多同位素同時型質(zhì)譜平臺將超越現(xiàn)有產(chǎn)品,并取代之。”
Vanhaecke同意上述觀點,他提到:在生物成像方面,由于激光燒蝕細(xì)胞術(shù)的發(fā)展,組織的二維掃描獲得了提高,樣品的分析通量得到了增加并且空間分辨率也提高了。他說:“這意味著掃描型ICP-MS成為了阻礙該領(lǐng)域進(jìn)一步發(fā)展的瓶頸。生物成像和納米顆粒分析這兩方面的需求,將有力地推動著儀器制造商向著同時型或同步型ICP-MS方面的投資。”
Westphal也呼吁同時型檢測器的研究開發(fā)工作。他說:“當(dāng)前掃描型質(zhì)譜系統(tǒng)一般強(qiáng)制要求用戶在進(jìn)行樣品分析之前預(yù)先選擇好相應(yīng)的同位素。這意味著假如在分析過程當(dāng)中出現(xiàn)了不可預(yù)知的干擾,那么用戶就不得不重復(fù)整個樣品的分析過程?!?br /> 他說:“在高速質(zhì)譜系統(tǒng)的幫助下,常規(guī)樣品的定量(而非定性)分析過程完全可以被扭轉(zhuǎn)——分析者可以先行收集數(shù)據(jù),然后再決定選擇哪個元素和同位素。最起碼,這將是一個不錯的‘智能軟件’——當(dāng)分析過程中發(fā)現(xiàn)有干擾存在時,它可以根據(jù)現(xiàn)有已知干擾信息來進(jìn)行校正?!?br /> Koppenaal同意“同時型多元素檢測器”的必要性。他覺得利用CMOS陣列檢測器仍然需要時日方可成功,但當(dāng)分析人員意識到它的優(yōu)勢后,將會獲得發(fā)展。他指出:其他的進(jìn)展例如飛行距離質(zhì)譜儀(DOF-MS)也可以在一個小的質(zhì)量段內(nèi)提供近似“同時”的檢測,并提供人們所熟悉的TOF-MS所不具有的優(yōu)勢。他說:“我想這也是一種值得進(jìn)一步開發(fā)和加以應(yīng)用的、激動人心的技術(shù)。它還提供了制備(毫克)水平上的收集、分離分析物能力?!?br /> Hanley重申她期望能見到一款同時具有元素和分子檢測能力的質(zhì)譜儀。她說:“這種原型機(jī)已經(jīng)出現(xiàn)了,它將會是商業(yè)市場上的競爭者。”
她還認(rèn)為,采用聯(lián)用技術(shù),ICP-MS對金屬納米顆粒進(jìn)行表征將會從一種研究工具逐漸變成日常的應(yīng)用。她說:“各種同行評審刊物顯示,光譜分析法如UV-Vis或者動態(tài)光散射法對于納米顆粒表征達(dá)檢出限不夠時,ICP-MS聯(lián)用如場流分離效應(yīng)、高效液相色譜和毛細(xì)管電泳色譜技術(shù)卻能達(dá)到。而用于單顆粒檢測的進(jìn)樣系統(tǒng)已經(jīng)在研究工作中獲得了進(jìn)展?!?br /> Vanhaecke預(yù)見了另一個領(lǐng)域——生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的進(jìn)步。他說:“幾個實驗室(包括我這里)正在探索用于醫(yī)療方面的高精度礦質(zhì)元素同位素分析。目前所知道的是,一些疾病會明顯地影響人體體液當(dāng)中某些元素同位素的組成。這方面的研究可用于疾病的早期診斷,否則只能在后期或者通過一些創(chuàng)傷性方法了。當(dāng)然,我是有偏心的,但確實應(yīng)該看到這個領(lǐng)域的創(chuàng)新性應(yīng)用。”
Westphal希望我們能把目光注意到軟件和數(shù)據(jù)處理工具上的進(jìn)步。令人欣慰的是,關(guān)于軟件和聯(lián)用技術(shù)的接口方面已經(jīng)有了長足的進(jìn)展,這點包括用于納米顆粒分析的軟件模塊。他希望激光燒蝕方面也能有如此的進(jìn)步:“激光燒蝕領(lǐng)域如果能有類似的改進(jìn)那將會很受歡迎,因為目前數(shù)據(jù)的處理和分析已經(jīng)成了瓶頸。通過LA-ICP-MS得到二維和三維化學(xué)成像的定量分析數(shù)據(jù),是一個具有廣泛應(yīng)用并且激動人心的領(lǐng)域,并且與LA-ESI-MS和TOF-SIMS技術(shù)相互補(bǔ)充?!?br /> Hanley預(yù)見激光燒蝕的另一項新進(jìn)展:LA-ICP-MS的內(nèi)標(biāo)和定量分析方法。她說:“新的LA-ICP-MS標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)在進(jìn)行內(nèi)部測試,以驗證內(nèi)標(biāo)和定量標(biāo)準(zhǔn)的有效性?!?br />總結(jié)
近年ICP-MS儀器取得了一些重大的突破。由于碰撞/反應(yīng)池系統(tǒng)和三重四極桿的出現(xiàn),光譜干擾被有效地降低;基于CMOS技術(shù)的檢測器取得了長足的進(jìn)步;微流技術(shù)的發(fā)展促使了等離子源的改善,使得樣品的需求量更低、進(jìn)入質(zhì)譜系統(tǒng)的樣品基體量更少,并且在單細(xì)胞分析領(lǐng)域表現(xiàn)突出;微電子學(xué)的進(jìn)展使儀器具有更快的數(shù)據(jù)采集速度并改善了數(shù)據(jù)的存儲,從而使得痕量級別的分析成為可能,并且還促進(jìn)了高性能的CMOS檢測器的發(fā)展。
時至今日,儀器本身已經(jīng)足以應(yīng)對超痕量級別的分析,制約許多分析的瓶頸反而是來自于樣品的前處理步驟,這催生了試劑和器皿的發(fā)展,同時也促進(jìn)了潔凈室、密閉樣品處理系統(tǒng)和自動化操作的廣泛應(yīng)用。
ICP-MS技術(shù)的發(fā)展也推動著應(yīng)用領(lǐng)域拓展。ICP-MS強(qiáng)有力的技術(shù)能力使之可對應(yīng)ppb級別的納米粒子濃度、粒徑大小和粒徑分布的測試,這些信息可使研究人員、監(jiān)管機(jī)構(gòu)和消費(fèi)者了解納米顆粒在環(huán)境和食品當(dāng)中的影響,也可以了解其對生物的潛在影響;ICP-MS既是金屬組學(xué)研究的關(guān)鍵設(shè)備,也是推動單細(xì)胞研究向前發(fā)展的利器,質(zhì)譜流式術(shù)和地質(zhì)年代學(xué)的發(fā)展也和ICP-MS系統(tǒng)的進(jìn)展息息相關(guān);多接收扇形磁質(zhì)譜儀保證了同位素比例測試結(jié)果的準(zhǔn)確度和精確度;利用ESI-MS和ICP-MS所獲得數(shù)據(jù)的相互補(bǔ)充,形態(tài)分析也在不斷地發(fā)展著。
未來理想中的質(zhì)譜儀是那種具有同時檢測能力和超大線性范圍的設(shè)備。使用CMOS作為檢測器可使得這樣的儀器成為現(xiàn)實,但飛行時間或者飛行距離質(zhì)譜儀則可能更早地實現(xiàn)這個目標(biāo)。最后也期盼能夠出現(xiàn)這樣的儀器——同時帶有元素檢測和分子檢測的質(zhì)譜檢測器。